X射线探伤仪 探傷機 X-RAY-CC-2066-01|||CC-2066-02|||CC-2066-03|||CC-2066-04
※目录刊载页:易购安实验用仪器・耗材目录6000号566页
实验室用品|||工具类
特点
- 非损检查方式，深入产品内部。
- 最大60/75度的倾斜角度，轻松的检测产品内部特征，全面的观测产品。
- 极高的16位分辨率成像，分辨率达到2μm，图像清晰，便于观测。
- 放大倍率：XT V 130 达到1560 XT V 160 达到2400 测量产品更精确。
- 双屏幕，便于观察。
- 维护成本低。
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商品属性
| 商品属性 | |
|---|---|
| 商品名称 | X射线探伤仪 探傷機 X-RAY-TC2066 |
| 型号 | CC-2066-01|||CC-2066-02|||CC-2066-03|||CC-2066-04 |
| 类别 | 实验室用品|||工具类 |
| 特点 |
|
| 规格 | |
| 备注 | ※目录刊载页:易购安实验用仪器・耗材目录6000号566页 |
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